计算机应用研究

北大核心,JST,Pж(AJ),CSCD扩展版,WJCI

国内刊号:51-1196/TP

国际刊号:1001-3695

计算机应用研究杂志2020年第10期:基于DKNPE方法半导体蚀刻过程健康状态监视

发布日期:

作者:张成,戴絮年,郭青秀,李元,

单位:沈阳化工大学技术过程故障诊断与安全性研究中心,沈阳110142;

关键词:邻域保持嵌入,K近邻,半导体蚀刻过程,健康状态监视,故障检测,

基金:国家自然科学基金资助项目(61490701,61673279);;

针对传统方法对非线性或多模态间歇过程的故障检测率低的问题,提出一种基于K近邻邻域保持嵌入得分差分(difference of K nearest neighbors score associated with neighborhood preserving embedding,DKNPE)的健康状态监视方法。首先,通过NPE方法计算训练数据集的得分矩阵,称其为样本的本质得分。然后,在训练数据集计算每个样本的K近邻均值,并将其投影到低维空间以获得样本的估计得分。接下来,在差分子空间(diffe-rence subspaces,DS)和差分残差子空间(difference residual subspaces,DRS)中分别建立两个新的统计量对样本进行过程监控。将本方法在两个模拟数值例子和半导体蚀刻过程中进行测试,并与PCA、FD-KNN和NPE等传统方法进行对比分析, 测试结果验证了该方法的有效性。

来源:2020年第10期

《计算机应用研究》期刊编辑部

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