国内刊号:51-1196/TP
国际刊号:1001-3695
发布日期:
作者:张乃雪,钟羽中,赵涛,佃松宜,
单位:四川大学电气工程学院,成都610065;
关键词:Transformer,DETR模型,GIoU损失,表面缺陷检测,深度学习,
基金:国家重点研发计划资助项目(2018YFB1307401);;
为应对实际工业产品视觉质量检测中缺陷罕见、尺寸小等挑战,提出了一种仅需要少量训练样本的小尺寸缺陷检测算法——Smooth-DETR,该算法采用基于DETR的编码—解码结构对缺陷类别和位置进行预测,该结构降低了参数量和计算复杂度。因DETR强大的全局特征学习能力,该算法可从少量训练样本中充分挖掘产品表面纹理特征,从而对打破了表面纹理连续性的缺陷检出率高;通过结合Smooth-L1损失和GIoU损失的优势,进一步提升了小尺寸缺陷的回归精度。实验结果表明,所提方法检测性能优于现有先进检测模型。此外,仅用少量训练样本,该算法对11类产品表面的缺陷检测平均精确率就能够达到98%以上。
来源:2022年第8期
《计算机应用研究》期刊编辑部