计算机应用研究

北大核心,JST,Pж(AJ),CSCD扩展版,WJCI

国内刊号:51-1196/TP

国际刊号:1001-3695

计算机应用研究杂志2024年第10期:基于分区再训练的RRAM阵列多缺陷容忍算法

发布日期:

作者:王梦可,杨朝晖,查晓婧,夏银水,

单位:宁波大学信息科学与工程学院,浙江宁波315211;

关键词:RRAM阵列,缺陷容忍,神经网络,知识蒸馏,

基金:国家自然科学基金资助项目(62131010,U22A2013);国家自然科学基金青年项目(62304115);浙江省自然科学基金创新群体资助项目(LDT23F04021F04);浙江省科研计划一般项目(Y202248965);;

针对RRAM单元制造工艺不完善造成神经网络矩阵向量乘法计算错误问题,根据RRAM阵列多缺陷特性进行建模,提出了多缺陷容忍算法。首先根据RRAM阵列常见的转变缺陷和粘连缺陷对神经网络计算准确度的影响,对两种缺陷统一建模;然后对神经网络进行划分,基于改进的知识蒸馏方式进行分区训练;最后选择适配的损失函数加入归一化层,进一步优化算法。在MNIST和Cifar-10数据集上进行实验,结果表明该方法在多个神经网络上能够得到98%以上的恢复率,说明该方法可有效降低RRAM阵列多缺陷对神经网络计算准确度的影响。

来源:2024年第10期

《计算机应用研究》期刊编辑部

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